
DNBSEQ-E25 Flash:AI賦能閃速測序
DNBSEQ-E25 Flash是在DNBSEQ-E25經(jīng)典機(jī)型基礎(chǔ)上,通過融合一系列AI工具研發(fā)的一款全新的自發(fā)光半導(dǎo)體測序儀。與DNBSEQ-E25 閃速測序試劑套裝搭配使用,最快可在2小時(shí)內(nèi)完成SE50測序,滿足于更多應(yīng)用對于TAT*的極限訴求。
*TURN-AROUND TIME,樣本周轉(zhuǎn)時(shí)間
產(chǎn)品特點(diǎn)

![]() 1 Gb~2.5 Gb per run |
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最快2小時(shí)可輸出測序數(shù)據(jù)(SE50)
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搭載全新升級(jí)GPU的邊緣計(jì)算設(shè)備,融合AI算法
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支持病原快檢、小型基因組測序等方向的測序應(yīng)用
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性能參數(shù)
DNBSEQ-E25 Flash |
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讀長 |
SE50*** |
SE75*** |
SE100 |
單次運(yùn)行最大載片數(shù) |
1 | 1 | 1 |
最大reads數(shù)/載片* |
20 M~25 M |
20 M~25 M |
20 M~25 M |
數(shù)據(jù)量 |
1 Gb~1.25 Gb |
1.5 Gb~1.875 Gb |
2 Gb~2.5 Gb |
數(shù)據(jù)質(zhì)量Q30** |
>90% |
>90% |
>90% |
測序時(shí)間(DNB-FQ) |
2小時(shí) |
3小時(shí) |
3.3小時(shí) |
*有效reads數(shù)值根據(jù)特定標(biāo)準(zhǔn)文庫運(yùn)行所得,實(shí)際應(yīng)用文庫受樣本類型、建庫方式會(huì)有所波動(dòng)。 **高于Q30的堿基百分比及運(yùn)行時(shí)間是特定標(biāo)準(zhǔn)文庫通過整個(gè)運(yùn)行平均所得。實(shí)際應(yīng)用表現(xiàn)受樣本類型、文庫質(zhì)量、插入片段長度等因素影響。 ***可使用SE100耗材進(jìn)行SE50/SE75測序,可在測序儀用戶界面定制讀長。 |
系統(tǒng)參數(shù)
- 主機(jī)配置
顯示屏:LCD 觸摸顯示屏,12.1 英寸,分辨率1280×800
最大聲壓:65 dBA
外殼防護(hù)等級(jí):IPX0
電源:24V DC,5A
尺寸&凈重:348 mm(長)×312 mm(寬)×257 mm(高),~15 kg
- 計(jì)算模塊配置
GPU:2048 CUDA 核心,64 Tensor 核心
CPU:Arm Cortex-A78AE(12 核)
內(nèi)存:64G 統(tǒng)一內(nèi)存
硬盤:64G eMMC + 4T 固態(tài)硬盤
電源:20V DC,3 A
尺寸&凈重:110 mm(長)×110 mm(寬)×71.65 mm(高),2.19 kg
- 操作環(huán)境
溫度:15 ℃~30 ℃
濕度:20% RH~80% RH,無冷凝
氣壓范圍:70 kPa~106 kPa
- 存儲(chǔ)/運(yùn)輸環(huán)境
溫度: -20 °C ~ 50 °C
濕度:15% RH ~85% RH,無冷凝